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變溫霍爾效應實驗儀

更新時間:2024-05-08

產品型號:LK-HT-648

廠家性質:經銷商

訪問次數:461

簡要描述:

霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯合測量,進行半導體導電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的一些基本參數,如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。

霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯合測量,進行半導體導電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的一些基本參數,如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。

主要技術指標

1.電磁鐵   0-300mT連續可調

2. 勵磁電源0-5A連續可調  可自動換向穩定性﹤±0.1%

3. 數字特斯拉計0-2000mT 三位半數字顯示   分辨率0.001

4. 恒流源輸出1mA 穩定性±0.1%

5. 數據采集系統霍爾電壓測量最小分辨率1uV

6. 溫度變化測量范圍    80-400K

7. 整套儀器由電磁系統、電源控制系統機箱、測量系統主機、恒溫器四部分組成

8. 探頭樣品采用單晶鍺片


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